機器を試験する

シールド材試験

KEC法（500Hzから1GHz）

当センターで開発した電磁波シールド効果測定装置で、シート状の材料であれば比較的容易にその電磁波シールド効果を測定評価することができます。
測定装置には電界シールド効果評価用と磁界シールド効果評価用の2つがあります。

電界シールド評価用装置

電界シールド評価用装置はTEMセルの寸法配分を取り入れ、その伝送軸方向に垂直な面内で左右対称に分割した構造になっております。ただし、測定試料の挿入によって短絡回路が形成されることを防止するために、中心導体の軸方向長さは切断面より2mmだけ短くしてあります。

磁界シールド評価用装置

磁界シールド評価用装置は、磁界成分の大きな電磁界を発生させるために、シールド型円形ループ・アンテナを使用し、90度角の金属板と組み合わせて、ループ・アンテナの1/4の部分が外部にでている構造になっております。

測定材料について

[注記]
(*1) 導電性がない場合、特定周波数で共振点が生じる可能性があります。
(*2) 粘着剤が付いているサンプルやガラスなど破損しやすいサンプルの場合、予備をご準備いただく必要があります。
(*3) 金属版がサンプルの場合、シールド効果が非常に高いため試料間の優位性評価は困難です。

GHz KEC法（1GHzから6GHz）

当センターと日本シールドエンクロージャー株式会社で共同開発した電磁波シールド効果測定装置で、シート状の材料であれば比較的容易にその電磁波シールド効果を測定評価することができます。

GHz KEC法による評価用装置は、同軸管をその伝送軸方向に垂直な面内で左右対称に分割した構造になっております。
その分割した間に材料を挟み込むことにより短時間で1GHz超のシールド効果を測定することが可能です。
本装置は特許庁に2013年12月10日に出願し、2014年9月26日に特許を取得しております（特許第5619265号）。

測定材料について

[注記]
(*1) 導電性がない場合、特定周波数で共振点が生じる可能性があります。
(*2) 粘着剤が付いているサンプルやガラスなど破損しやすいサンプルの場合、予備をご準備いただく必要があります。
(*3) 金属版がサンプルの場合、シールド効果が非常に高いため試料間の優位性評価は困難です。

拡張GHz KEC法（5GHzから18GHz）

当センターと日本シールドエンクロージャー株式会社で共同開発した電磁波シールド効果測定装置で、シート状の材料であれば比較的容易にその電磁波シールド効果を測定評価することができます。

拡張GHz KEC法による評価用装置は、導波管をその伝搬軸方向に垂直な面内で左右対称に分割した構造になっております。その分割した間に材料を挟み込むことにより、短時間で5GHzから18GHzまでのシールド効果を測定することが可能です。

測定材料について

[注記]
(*1) 導電性がない場合、特定周波数で共振点が生じる可能性があります。
(*2) 粘着剤が付いているサンプルやガラスなど破損しやすいサンプルの場合、予備をご準備いただく必要があります。
(*3) 金属版がサンプルの場合、シールド効果が非常に高いため試料間の優位性評価は困難です。

KEC法の測定結果について

上記グラフにおいて、黒色の実線は当センターの測定システムで測定できるシールド効果の測定限界値（これ以上のシールド効果は評価できない値）を示しており、赤色の実線は測定値を示しています。
例えば上記グラフにおいて周波数20MHzの場合、測定限界と測定値が一致していることから、評価材料のシールド効果は80dB以上であること示しています。
KEC法では、反射損・吸収損・多重反射の補正を個々に評価することはできません。
上記のグラフの測定値（赤色）は、反射損・吸収損・多重反射の補正が合算された結果を表しています。